Fri frakt över 299:- Snabb leverans Alltid låga priser
    Alltid fri frakt över 299:-
    1. Hem
    2. Böcker
    3. Kurslitteratur
    4. Matematik & Naturvetenskap
    5. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology (inbunden, eng)

    Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology (inbunden, eng)

    The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric...
    1 469 kr 1 515 kr
    Slut i lager
    • Fri frakt
    Fri frakt över 299:- Snabb leverans Alltid låga priser

    Produktbeskrivning

    Specifikation

    Leverans

    Betalning

    Specifikation

    Böcker

    • Format Inbunden
    • Antal sidor 344
    • Språk Engelska
    • Förlag Wiley-VCH Verlag GmbH
    • Utgivningsdatum 2014-07-02
    • ISBN 9783527411528

    Relaterat inom matematik & naturvetenskap

    Toppsäljare inom kurslitteratur

    Tidigare besökta

    Tillagd i varukorgen